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    光纖測(cè)試儀的測(cè)試分為一次測(cè)試和二次測(cè)試，初級(jí)測(cè)試也是基礎(chǔ)測(cè)試，光纖測(cè)試儀主要測(cè)試光纖的插入損耗和光纖鏈路長(zhǎng)度。光纖測(cè)試儀可以發(fā)射光源對(duì)光信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，通過待測(cè)鏈路后再進(jìn)入光功率計(jì)計(jì)算衰減。測(cè)試指標(biāo)包括鏈路整體衰減和鏈路長(zhǎng)度。光纖測(cè)試儀的測(cè)試原理是兩個(gè)數(shù)值的比較值。光功率計(jì)讀取設(shè)置基準(zhǔn)時(shí)的光功率和接入待測(cè)鏈路時(shí)接收到的光功率，將兩者相減，取對(duì)數(shù)計(jì)算分貝值。

    常用的光纖測(cè)試儀器包括光功率計(jì)，光源和光時(shí)域反射儀(OTDR)。測(cè)試時(shí)要求使用跳線，以延長(zhǎng)儀器測(cè)試端口的精密壽命。如果被測(cè)光纖中的光功率過強(qiáng)，必須使用光衰減器降低光功率，才能安全地進(jìn)行測(cè)試。為了保持精確度，光功率計(jì)不能直接測(cè)試強(qiáng)光。如果直接連接在強(qiáng)力光纖上，時(shí)間長(zhǎng)了檢測(cè)裝置就會(huì)燒毀。特別是單模光纖傳輸設(shè)備，為了具有較長(zhǎng)的傳輸距離，設(shè)備上的光模塊發(fā)光強(qiáng)度一般較強(qiáng)。

    有源光纖是指被測(cè)光纖發(fā)射的光功率，例如連接對(duì)端的光模塊。光纖測(cè)試儀采用“接收反射瑞利散射反向光原理”進(jìn)行測(cè)試。由于光纖測(cè)試儀的反向光子能量很弱，OTDR檢測(cè)裝置的靈敏度遠(yuǎn)高于光纖測(cè)試儀，因此不能經(jīng)受強(qiáng)光照射，否則很容易燒毀。