發(fā)布時(shí)間：2022年10月13日            作者：德國(guó)GMC-I高美測(cè)儀（上海電勵(lì)士）

TDR阻抗測(cè)試儀最大限度減少夾具影響的方法

使用TDR阻抗測(cè)試儀搭配可直接連接到 DUT 的遠(yuǎn)程測(cè)量前端（無需適配器或電纜），將有助于最大程度地減小系統(tǒng)測(cè)量誤差，但并不能完全消除此誤差。如果需要使用適配器、探頭或非同軸電纜來連接DUT，那么有可能增加雜散反射和系統(tǒng)損耗，使得測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性下降。由于這些誤差機(jī)制是固定的、系統(tǒng)性的，因此有機(jī)會(huì)利用校準(zhǔn)方法來大幅提高測(cè)量精度，并最大程度地減小這些會(huì)造成誤差的效應(yīng)。

其中一種消除系統(tǒng)測(cè)量誤差的技術(shù)就是波形相減。在此方法中，先用一個(gè)理想的 DUT 連接至系統(tǒng)，并記錄 TDR 波形。而后再測(cè)試其他的 DUT，并從當(dāng)前跡線中減去記錄的跡線。如有差值，即表明 DUT 偏離了理想狀態(tài)。兩條跡線都有系統(tǒng)誤差，用戶可以有效地加以清除。這種方法可以非常簡(jiǎn)單而方便地提高精度，但是也有很大的局限性。首先，它需要一個(gè)理想的參考 DUT。這種 DUT 可能根本不存在，或者很難實(shí)現(xiàn)這個(gè)要求。其次，所有結(jié)果都是相對(duì)的。很難去判斷 DUT 的絕對(duì)性能。最后，到達(dá) DUT 的階躍信號(hào)質(zhì)量有可能下降。雖然這種效應(yīng)對(duì)于參考和 DUT 測(cè)量很常見，但是會(huì)嚴(yán)重限制TDR阻抗測(cè)試儀的性能。

另一種校準(zhǔn)方法的原理是使用精密的標(biāo)準(zhǔn)件或“已知性能的”器件表征測(cè)試系統(tǒng)。但是這種方法不是為了產(chǎn)生一條參考跡線，用于波形相減，而是能夠?qū)y(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)性響應(yīng)從 DUT 響應(yīng)中完全清除出去。這個(gè)過程常被稱為 TDR 校準(zhǔn)，作為一種簡(jiǎn)單但是又非常有效的方法，可以利用 TDR 獲得精確的測(cè)量結(jié)果。